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TIAの事業・活動

2018かけはし_#12(HfO2系結晶薄膜の強誘電...)

テーマ名:HfO2系結晶薄膜の強誘電特性発現から破壊までの調査研究
担当者名:右田 真司(AIST)
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概要ポスター (第2回TIAかけはし成果報告会 2018.7.4)