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施設【低温応用ステーション】 装置一覧（12件）
| 施設名 | 装置名称／手法 | 仕様 | 用途 |
|---|---|---|---|
| 低温応用ステーション | 高磁場下材料・プロセス観測・制御装置 | ・磁場発生系 ・中心磁場: 13 T ・室温ボア径: 100 mm ・回転角度: 鉛直から水平までの任意角度 |
・磁場を用いた弱磁性物質の材料プロセス制御とその場観察 |
| 低温応用ステーション | 冷凍機伝導冷却型10T超伝導マグネット装置-Ⅱ | ・中心磁場 : 10 T ・室温ボア径 : 100 mm ・縦・横置き ・ 回転角 : ボア鉛直～水平の90度以上 ・ 4.2K, 77K, 室温 ・室温ボア径 : 100mm ・4K-GM冷凍機ユニット付属 |
・磁場中配向制御 |
| 低温応用ステーション | 大口径超伝導マグネット | 超伝導マグネット ・磁場：14 T ・ボア径：340 mm（室温） |
・超伝導線など物質の強磁場下での特性評価 ・金属、ポリマーなどの磁場中での凝固 |
| 低温応用ステーション | 試料振動型磁化測定装置(VSM) | ・中心磁場：12T ・最大磁場 : ±11.5 T ・測定温度 : 4-300 K ・測定可能磁化範囲 : 10-4-10 emu ・試料寸法 : 最大5mm角程度 ・磁場掃引速度 : 1.0 T/min ・振動周波数 : 55 Hz ・振動幅 : 1.5-0.1 mm |
・磁化測定 |
| 低温応用ステーション | 20Tマグネット・希釈冷凍機システム | ・提供磁場 : 20 T ・口径 : 52 mm ・希釈冷凍機付 ・磁場均一度 : 10-4/10 mmDSV ・試料空間径 : 20 mm ・希釈冷凍による30mKの極低温下での測定。 |
・交流磁化 ・磁気トルク ・電気抵抗測定 |
| 低温応用ステーション | 冷凍機伝導冷却型12T超伝導マグネット装置 | ・提供磁場 : 12 T ・口径 : 100 mm ・回転角：ボア鉛直から水平の90度以上 ・4.2Kクライオスタット ・磁場均一度 : 1.5*10-2/40mmDSV ・磁場掃引速度 : 10 T/ 30 min ・4K-GM冷凍機ユニット付属 |
・磁場中結晶成長 ・配向制御 ・光散乱実験等 |
| 低温応用ステーション | 大口径17Tマグネット | ・最大磁場：17T ・口径：129mm（コールドボア） |
・高温超伝導コイル試験 ・超伝導線材試験 ・物性測定 |
| 低温応用ステーション | 20Tマグネット・ヘリウム3冷凍機システム | ・最高磁場 : 20 T ・口径 : 25 mm ・ヘリウム3インサート付き ・試料空間 : 20 mm ・磁場均一度 : 10-3/10 mmDSV |
・交流磁化 ・磁気トルク ・電気抵抗測定 |
| 低温応用ステーション | 15T超伝導スプリットマグネット装置 | ・中心磁場：15T ・ヘルムホルツ型 ・クリア径：44mm ・クリアスプリット：34mm |
・臨界電流測定、 ・磁気抵抗測定等 |
| 低温応用ステーション | 18T汎用超伝導マグネット装置 | ・中心磁場：18T ・ボア径：52mm ・4.2 K / 温度可変クライオスタット |
・臨界電流測定、 ・磁気抵抗測定等 |
| 低温応用ステーション | 17Tマグネット・ヘリウム4VTIシステム | ・提供磁場 : 17 T ・口径 : 52 mm ヘリウム4インサート ・試料空間径 : 37 mm ・磁場均一度 : 1*10-3/10 mmDSV |
・磁気トルク ・角度依存磁気抵抗測定 |
| 低温応用ステーション | 強磁場光学測定システム | パルス磁場 ・中心磁場 : 40 T ・口径：30 mm ・パルス幅1msec ・1分間隔で磁場発生可 定常磁場 ・中心磁場 : 15 T ・口径：52 mm ・ヘリウム4温度可変クライオスタット(試料空間42mm) ・磁場均一度：2×10-4/10mmDSV |
・輸送現象 光物性測定等 |