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施設【蓄電池基盤プラットフォーム】 装置一覧（34件）
| 施設名 | 装置名称／手法 | 仕様 | 用途 |
|---|---|---|---|
| 蓄電池基盤プラットフォーム | スーパードライルーム | メーカー名：新菱冷熱工業 型式：特型 |
小型電池試作、電池特性評価、プロセス評価、光学分析など |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 小型電池試作装置群 | 真空乾燥,電池の集電体とタブを溶接,電解液の注液等 | |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | FTIR（フーリエ変換赤外分光装置） | メーカー名：Thermo Scientific 型式：Nicolet iS50 |
物質の分子構造や未知試料の定性・定量分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | レーザーラマン顕微鏡 | メーカー名：Nanophoton 型式：RamanTouch-VIS-NIR |
化学結合の種類と質の同定、結晶化の程度、結晶格子の歪みなどの測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 高速分光エリプソメータ | メーカー名：J.A. WooLLAM 型式：M-2000X |
試料構造、光学定数、バンドギャップ、合金組成、相構造の測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | ガス透過率測定装置 | メーカー名：GL Sciences 型式：GTME 2520 |
フィルムやフィルム素材のガス透過率測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | TG/MS（熱重量測定質量分析装置） | メーカー名：TA Instruments 型式：Discovery |
熱負荷による材料の重量変化と放出されるガス種を同時に測定する。 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | コンパクトSEM | メーカー名：Agilent 型式：8500 |
試料の表面や構造の観察 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | レーザー顕微鏡 | メーカー名：KEYENCE 型式：VK-X200 |
形状、粗さ状態の観察及び定量分析。３次元表示。 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 粘度計 | メーカー名：AntonPaar 型式：Lovis2000ME |
相対粘度、動粘度、粘度の測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 充放電試験機 | メーカー名：sai，Espec 型式：580（16ch）+恒温槽 |
試作蓄電池セルの基本性能の評価 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 高精度電気化学測定システム | メーカー名：Solartron,BioLogic 型式：12608W,SP-200,VSP-300 |
交流インピーダンス、直流分極測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 単粒子測定システム | メーカー名：KEYENCE,BioLogic,Micro Support 型式：特型 |
電池電極は、活物質以外に結着材や導電性付与材等を含む複合材料であるが、活物質だけの基本的電池性能の評価が必要になる場合がある。本システムは、単一の活物質粒子について電気化学特性を測定するシステムである。 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | ICP/MS（誘導結合プラズマ質量分析計） | メーカー名：Agilent 型式：Agilent 7700 ICP-MS |
微量元素の定性分析、定量分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | LC/MS（液体クロマトグラフ質量分析計） | メーカー名：Waters 型式：Xevo G2-S QTof |
四重極型MS、飛行時間型MS、UPLC/MS/MS |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | イオンクロマトグラフ | メーカー名：Dionex 型式：ICS-2100 |
液体試料中の各種イオンを定量 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 酸素・窒素・水素定量分析装置 | メーカー名：HORIBA 型式：EMGA |
試料中の酸素、窒素、水素の定量分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | グロー放電発光分析装置（GD-OES） | メーカー名：HORIBA 型式：GD-Profiler 2 |
試料の表面分析/深さ方向分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | GC/MS（ガスクロマトグラフ質量分析計） | メーカー名：Agilent 型式：Agilent 5977A GC/MS |
充放電や高温保存等に伴う有機電解液の変質を定量的に調べる。 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 電池発生ガス分析装置 | メーカー名：JEOL 型式：JMS-700 |
既知物質の同定や未知物質の構造決定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | XRF（蛍光X線分析装置） | メーカー名：SHIMADZU 型式：LAB CENTER XRF-1800 |
物質の成分分析や構成比率を分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | XPS（X線光電子分光装置） | メーカー名：ULVAC-PHI 型式：VersaProbe II |
H、He以外のすべての元素の定性・定量、化学結合状態の分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | HAXPES | メーカー名：Omicron Nano Technology、ULVAC-PHI（光源） 型式：特型 |
硬X線源を用いたX線光電子分光 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | XRD（X線回折装置） | メーカー名：Rigaku 型式：SmartLab |
粉末解析、薄膜解析、小角X線散乱 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 比表面積測定装置 | メーカー名：Micromeritics 型式：3FLEX |
粉体の比表面積、細孔容積の測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 粒子径分布測定装置 | メーカー名：HORIBA 型式：LA-950V2 MF |
粒子の粒度分布 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 環境制御型SPM | メーカー名：Bruker AXS 型式：MultiMode 8 + グローブボックス（MBrown) |
表面粗さ、機械的特性、電気特性の局所評価 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | TOF-SIMS | メーカー名：ION-TOF 型式：TOF.SIMS5-AD-GCIB |
試料表面の微量な元素、化合物の同定や深さ方向分析、サブミクロン分解能でのイメージング |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | TEM/STEM | メーカー名：JEOL 型式：JEM-ARM200F（HR） |
TEM/STEM観察、EELS測定、EDS測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | FIB | メーカー名：JEOL 型式：JIB-4501 |
FIB加工およびSEM観察、SEM/TEM試料作製 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | FIB-SEM | メーカー名：Hitachi High-Tech Science 型式：SMF2000 |
FIB加工およびSEM/STEM観察、3D再構築,EDS測定,SEM/TEM試料作製 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | SEM | メーカー名：JEOL 型式：JSM-7800F |
SEM観察、EDS測定、WDS測定、EBSD測定 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | 走査型オージェ電子分光装置 | メーカー名：ULVAC-PHI 型式：PHI710 |
固体表面の元素・組成分析。化学結合状態の分析 |
| 蓄電池基盤プラットフォーム | クロスセクションポリッシャ（CP） | メーカー名：JEOL 型式：IB-09020CP |
大気非曝露での断面SEM観察用試料作製 |