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施設【フォトンファクトリー】 装置一覧（27件）
| 施設名 | 装置名称／手法 | 仕様 | 用途 |
|---|---|---|---|
| フォトンファクトリー（PF） | 超高圧実験装置(AR-NE1A) | X線エネルギー：10 ? 50 keV 単色X線 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 AR-NE1A for X-Ray Diffraction and M?ssbauer Spectroscopy Experiments at High Pressure |
ダイヤモンドアンビルセルを用いた超高圧・低温下でのＸ線構造解析。 レーザー加熱による地球の下部マントルからコアに迫る超高圧・超高温条件下での物質のふるまい。 |
| フォトンファクトリー（PF） | 高圧実験装置(AR-NE5C, AR-NE7A) | X線エネルギー：25 ? 100 keV 白色X線 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 AR-NE5C 高温高圧実験ステ－ション AR-NE7A X線イメージングおよび高温高圧実験ステーション |
高温、高圧下でのＸ線構造解析やイメージング。地球下部マントル環境での物質のふるまい。 |
| フォトンファクトリー（PF） | 高分解能角度分解光電子分光実験装置(BL-28A) | 高分解能角度分解光電子分光実験ステーションは、Gammadata Scienta製電子 分析器SES-2002を中心としたシステム（CCDカメラはデジタル取り込みにアッ プグレード済）（図８）であり、現在では40 eVの光子エネルギーで光電子の 全エネルギー分解能6 meVを達成している。 通常の角度分解光電子分光実験で は、主に15 meV ～25 meVのエネルギー分解能で実験が行われている。 また、 産業技術総合研究所で開発された低温多自由度マニピュレータ(iGonio-LT)を 導入しており、試料温度5 K ～ 300 Kでの角度分解光電子分光実験が可能である。 また、実験ステーションは測定槽、準備槽、試料導入槽からなっており、 試料槽を超高真空に保ったままでの試料交換が可能になっている。 ・放射光エネルギー：30 ? 300 eV ・Gammadata Scienta製電子分析器SES-2002を中心とした装置 ・試料槽を超高真空に保ったままでの試料交換が可能 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-28A 高分解能角度分解光電子分光実験ステーション |
高温超伝導体や巨大磁気抵抗マンガン酸化物に代表される強相関物質のフェルミ面、バンド分散、準粒子構造を直接的に観測 |
| フォトンファクトリー（PF） | 軟Ｘ線２結晶分光装置(BL-11B) | Ｘ線エネルギー：1.7 ? 5 keV 通常のＸ線ステーションでは利用困難な低エネルギー領域の分光研究が可能。 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-11B 軟Ｘ線２結晶分光ステーション |
Si、P、S、Clなど軽元素のEXAFS測定が可能。XAFS測定等に用いる簡単なもの以外は、原則として試料槽は持ち込みが必要。 |
| フォトンファクトリー（PF） | 水平型四軸回折計(BL-14A) | Ｘ線エネルギー：5 ? 21 keV リガク製イメージングプレート（IP）回折計 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-8a/ http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-8b/ |
高圧、低温の極限条件下での強相関電子系物質、有機導体の相転移などの構造的研究。１．フーラレン、ナノチューブの構造と相転移機構の研究２．スピンパイエルス相転移の外場依存性の研究３．MEMによる電子密度レベルでの構造研究４．遷移金属酸化物の電荷・軌道の秩序状態の研究など |
| フォトンファクトリー（PF） | 軟Ｘ線斜入射回折格子分光装置(BL-11A) | 利用可能放射光エネルギー：70 ? 1900 eV 幅広いエネルギー領域にわたって利用が可能 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-11A 軟Ｘ線斜入射回折格子分光ステーション |
Ｃ、Ｎ、Ｏ、Ｆ、Na、Mg、Alなど軽元素のEXAFSスペクトル測定が可能であるとともに多くのＰＦ内実験装置を連結することも可能 |
| フォトンファクトリー（PF） | タンパク質結晶構造解析(BL-1A, BL-5A, BL-17A, NE3A, NW12A) | Ｘ線エネルギー：4.5 ? 17 keV 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfweis.kek.jp/~protein/index.html http://pfweis.kek.jp/~protein/gallary/gallary.html http://pfweis.kek.jp/~protein/BeamLine/BL1/bl1.html http://pfweis.kek.jp/~protein/BeamLine/BL5/bl5.html http://pfweis.kek.jp/~protein/BeamLine/BL17/bl17.html http://pfweis.kek.jp/~protein/BeamLine/NE3A/ne3a.html http://pfweis.kek.jp/~protein/BeamLine/NW12/private/lmgc.html |
タンパク質微小結晶のＸ線結晶構造解析単結晶X線構造解析、振動写真法、多波長異常分散（MAD）法、単波長異常分散（SAD）法 |
| フォトンファクトリー（PF） | メスバウアースペクトロスコピー(NE1A) | Ｘ線エネルギー：14.4 keV、30 keV、50 keV エネルギー分解能：dE/E ＝ 5 × 10-7 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfwww.kek.jp/users_info/users_guide_e/station_spec_e/ne1/ne1a.html |
高圧下でのメスバウアースペクトロスコピー |
| フォトンファクトリー（PF） | 放射性試料・核燃料物質分光実験装置(BL-27A, BL-27B) | Ｘ線エネルギー：1.8 ? 20 keV 非密封ＲＩ管理区域内に設置されたXAFS測定装置、光電子分光測定装置（1.8 ? 4 keV）の利用が可能。 放射性同位元素、核燃料物質を含む試料を用いることが可能。 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-27A 放射性試料用軟Ｘ線実験ステーション BL-27B 放射性試料用Ｘ線実験ステーション |
核燃料物質の物性研究、内殻電子励起による表面化学反応、新規低次元物質の探索と電子構造の解明など |
| フォトンファクトリー（PF） | 溶液用小角散乱（酵素回折計）(BL-10C) | Ｘ線エネルギー：8 keV 溶液散乱の測定では、溶液試料用の標準セルホルダーが整備されている。 二次元大面積イメージングプレート自動読み取り式検出器R-AXIS VII（Rigaku) 一次元位置敏感型比例検出器 PSPC（Rigaku) 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfweis.kek.jp/~saxs/ http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl10/bl10c.html |
タンパク質・酵素溶液などの液体試料を用いたX線小角散乱実験。 タンパク質の溶液中のコンフォメーション及び機能時のコンフォメーション変化、高分子構造転移の評価など。 |
| フォトンファクトリー（PF） | 単色Ｘ線・軟Ｘ線生物試料照射装置(BL-27A, BL-27B) | Ｘ線エネルギー：1.8 ? 20 keV 細胞や生体分子に大気中で単色Ｘ線・単色軟Ｘ線を照射可能。 また、4 keV以上では、細胞を顕微鏡観察しながら、個別の細胞にマイクロビーム単色Ｘ線を照射し、照射後も継続して観察することが可能。 隣接の生物試料準備室で試料調製や放射線影響の分析が可能。 また、トレーサーとして非密封ＲＩを使用することができる。 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-27A 放射性試料用軟Ｘ線実験ステーション BL-27B 放射性試料用Ｘ線実験ステーション |
生体への放射線効果の研究など |
| フォトンファクトリー（PF） | 軟Ｘ線光学素子評価装置(BL-11D) | 放射光エネルギー：60 ? 900 eV E/ΔE = 2000 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-11D 軟Ｘ線光学素子評価装置用ステーション |
回折格子や多層膜の反射率などの精密特性評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | 六軸X線回折計(BL-3A, BL-4C) | 回折計の仕様から、結晶の逆格子空間を広く走査する結晶構造解析的な実験よりは、 温度・圧力・磁場などの外場条件を変えながら、逆格子空間の一部を 高分解能・高精度で測定する構造物性的な実験に適している。 BL-3Aでは強磁場中での測定も可能。 Ｘ線エネルギー：4 ? 18 keV 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-3a/ http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-4c/ |
精密Ｘ線回折・散乱実験物性と関連する長周期構造の観測3d電子系、4f電子系の共鳴X線散乱表面回折磁場中X線回折実験 |
| フォトンファクトリー（PF） | 時分割実験装置(NW14A) | Ｘ線エネルギー：5 ? 25 keV 時間分解能：100ピコ秒程度 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfwww.kek.jp/adachis/NW14/NW14.htm |
X線回折、Ｘ線散乱、X線吸収による高速現象の解析、評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | Ｘ線光学素子評価装置(BL-3C, BL-14B, BL-14C) | Ｘ線エネルギー：4 ? 70 keV 白色X線（BL-3C、BL-14C） 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl3/bl3c.html http://pfwww.kek.jp/hirano/14b.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl14/bl14c.html |
X線光学素子の精密特性評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | 高分解能可変偏光真空紫外・軟Ｘ線利用実験装置(BL-28B) | 放射光エネルギー：30 ? 300 eV 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-28B 高分解能可変偏光真空紫外・軟Ｘ線ビームライン |
光電子顕微鏡、原子・分子分光実験などのユーザ持ち込み装置での実験に対応 |
| フォトンファクトリー（PF） | Ｘ線小角散乱(BL-6A) | Ｘ線エネルギー：8 keV ハイブリッドピクセル検出器（PILATUS） CCD検出器 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfweis.kek.jp/~saxs/ http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl6/bl6a.html |
微小粒子、合金、生体試料などの数ナノメートルレベルでの構造の解析、評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | 表面化学研究用真空紫外軟X線分光装置(BL-13A, BL-13B) | 放射光エネルギー：30 ? 1600 eV 光電子分光装置（SES-200，Scienta）、試料作製用超高真空装置、有機試料蒸着用超高真空装置、試料加熱冷却面内回転トランスファー機構を常設 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-13A/B 表面化学研究用真空紫外軟X線分光ステーション |
角度分解紫外光電子分光、高分解能内殻光電子分光、高分解能軟X線吸収分光を中心とした表面化学の研究 |
| フォトンファクトリー（PF） | 固体表面・界面光電子分光装置(BL-2A) | 放射光エネルギー：30 ? 2000 eV 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-2A 固体表面・界面光電子分光実験ステーション |
表面・界面物性、機能性材料、環境材料などの評価・開発研究など |
| フォトンファクトリー（PF） | 蛍光X線イメージング装置(BL-4A) | Ｘ線エネルギー：5 ? 30 keV 白色X線 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 Photon Factory BL-4A BL-4A 蛍光Ｘ線分析/マイクロビーム分析 |
放射光を励起光源とした蛍光X線分析装置であり、環境試料、生医学試料、岩石試料、各種材料中に含まれるZ>10以上の元素分析、状態分析など |
| フォトンファクトリー（PF） | X線イメージング装置（トポグラフィー）(BL-20B) | Ｘ線エネルギー：7 ? 25 keV イメージングプレート 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/bl20/bl20b.html |
Ｘ線回折像による試料（表面）の構造評価、半導体材料の評価など |
| フォトンファクトリー（PF） | Ｘ線光学及びイメージング装置(BL-3C, BL-14B) | Ｘ線エネルギー：4 ? 40 keV 白色X線（BL-3C） 精密回折計、Ｘ線ＣＣＤカメラ、フラットパネル検出器等の利用が可能装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-3C Ｘ線光学素子評価ステーション／白色磁気回折ステーション BL-14B |
生体試料や工業材料等の非破壊内部観察、X線光学素子の開発や精密特性評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | X線吸収分光法(XAFS)(BL-9A, BL-9C, BL-12C, NW2, NW10A) | Ｘ線エネルギー：2.1 ? 42 keV 蛍光XAFS実験用19素子半導体検出系(BL-12C) 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://pfwww.kek.jp/nomura/pfxafs/index.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/9a/bl9a.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/9c/bl9c.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/12c/bl12c.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/nw2a/nw2a.html http://pfwww.kek.jp/users_info/station_spec/xafsbl/nw10a/nw10a.html |
透過法、蛍光法、転換電子収量法、(蛍光)全反射法を用いたX線吸収分光法(XAFS)による試料の評価 |
| フォトンファクトリー（PF） | X線イメージング装置（単色X線投影法、単色X線CTなど）（BL-14B, BL-14C, NE7A） | Ｘ線エネルギー：7 ? 70 keV 白色X線（BL-14C、NE7A） CCD検出器 ハイブリッドピクセル検出器（PILATUS） 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-14B BL-14C X線イメージングおよび汎用X線実験ステーション AR-NE7A X線イメージングおよび高温高圧実験ステーション |
X線吸収イメージング法、位相イメージング法による試料の非破壊評価、非破壊検査、産業材料の評価、医学応用など |
| フォトンファクトリー（PF） | 可変偏光軟X線分光装置(BL-16A) | 利用可能放射光エネルギー 円偏光： 297 ? 1000 eV 水平直線偏光：180 ? 1500 eV 垂直直線偏光：380 ? 1500 eV 楕円偏光：218 ? 1500 eV これらの偏光モードおよびエネルギーは、実験中随時変更が可能 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-16A 可変偏光軟X線分光ステーション |
Fe、Co、Niなどの3d遷移金属のL吸収端におけるX線吸収分光法(XAFS)やX線共鳴散乱(XRS)において、磁気円二色性(MCD)や磁気線二色性(MLD)の測定、および直線偏光依存XAFSに波長分散型XAFS法を組み合わせることによって固体表面における化学反応の実時間追跡 |
| フォトンファクトリー（PF） | 機能性材料解析装置(BL-2B) | 放射光エネルギー：30 ? 4000 eV 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 BL-2B 機能性材料解析ステーション |
表面・界面物性、機能性材料、環境材料などの評価・開発研究など |
| フォトンファクトリー（PF） | 多目目的極限条件下ワイセンベルグカメラ(BL-8A, BL-8B) | Ｘ線エネルギー：5 ? 21 keV リガク製イメージングプレート（IP）回折計 装置の詳細に関しましては次のリンク先をご参照ください。 http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-8a/ http://cmrc.kek.jp/beamlines/bl-8b/ |
高圧、低温の極限条件下での強相関電子系物質、有機導体の相転移などの構造的研究。１．フーラレン、ナノチューブの構造と相転移機構の研究２．スピンパイエルス相転移の外場依存性の研究３．MEMによる電子密度レベルでの構造研究４．遷移金属酸化物の電荷・軌道の秩序状態の研究など |