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装置詳細

走査プローブ顕微鏡SPM1[NanoscopeⅣ_Dimension3100]

機関 産業技術総合研究所
施設名 ナノプロセシング施設
メーカー Veeco
型式 DI3100
用途
仕様(特徴・詳細)
この装置では、原子間力顕微鏡(AFM)、磁気力顕微鏡(MFM)測定が可能です。AFMは、基板表面をプローブ探針で走査することにより、表面にある凹凸の変位をピエゾ素子で表面形状の変化として測定します。試料の電気伝導性は絶縁体、半導体、良導体に依らず計測が可能で、計測面範囲は90 μm×90 μmで、高さは6 μm以内です。MFMは探針と試料との間に働く磁気力を検出して、表面の磁気的特性を調べる事ができます。
●型式:DI 3100
●試料寸法:150 mm以内(面範囲)、12 mm(高さ範囲)
●試料固定:真空固定、測定範囲:90 μm×90 μm(面範囲)、6 μm以内(高さ範囲)
●測定精度:最大2 %(最大レンジ幅)
利用方法 詳しくはこちらをご覧下さい
問合せ先 国立研究開発法人産業技術総合研究所
TIA推進センター プラットフォーム運営ユニット 共用施設ステーション
〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 中央第2
電話:029-861-3210
FAX:029-861-3211
Eメール:tia-kyoyo-ml@aist.go.jp
備考
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